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广角/小角X射线散射结构分析仪(SAXS/WAXS)
2016-04-22 |   |作者: 【关闭窗口】
    

仪器名称

广角/小角X射线散射结构分析仪(SAXS/WAXS)

仪器型号

法国赛诺思,Nano-inXider

放置部门

公共测试平台

放置地点

廊坊E号楼301

管 理 员

曾慧峰

设备原值

357.6万

联系电话

0316-2556529

Email

hfzeng@ipe.ac.cn

功能

    用于分析高分子材料、胶体、乳液等材料纳米结构,适用于从液体到固体的各种形态,可以得到:纳米级粒度分布、形貌信息、结晶度、取向性、比表面积等信息,全面反映样品的纳米级结构信息;可以测量信号比较强的固体样品和信号微弱的液体样品

技术参数指标

1.X-射线源:高通量微聚焦点光源;靶材:铜靶;最大输出功率:微聚焦光源30w;冷却方式:内循环自动水冷。

2.光路系统:单次全反射单片多层膜X射线聚焦镜;双狭缝无散射准直系统,保证不会产生杂散光;光路狭缝数量:2个。

3.样品台及附件:具有超大开放式水平样品台及样品空间。

4.散射真空管路:样品到探测器的距离无需调节,样品到小角探测器距离938mm,样品到广角探测器距离79mm;一次曝光,可同时在线实时、连续采集到小角、广角数据,同时得到2θ角度范围0.041°至60°二维数据图谱。

5.SWAXS联用混合型半导体二维探测器。

对外服务时间及收费

对外服务时间: 

  周一至周五830—1800,统一在中科院仪器平台上预约。 

收费标准:100/

                       备注          

 

 
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