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高分辨场发射透射电子显微镜
2014-12-09 |   |作者: 【关闭窗口】
    

仪器名称

高分辨场发射透射电子显微镜

厂家型号

日本电子JEM-2100F

放置部门 

公共测试平台

放置地点

展览楼102-2

管 理 员

吴慧

购买价格

567万人民币

联系电话

010-57298935

Email

hwu@ipe.ac.cn

功能

    高分辨场发射透射电子显微镜能提供极微细材料的组织结构、晶体结构和化学成分等方面的信息;主要应用于材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷的观察;物相鉴定,包括晶胞参数的电子衍射测定;高分辨晶格和结构像观察;结合能谱仪(EDS)得到纳米微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素定性定量和分布分析。该仪器包含以下配置:超高分辨场发射透射电子显微镜分析系统;电制冷能谱仪系统;原位电学测量系统

技术参数指标

分辨率:点分辨率:0.19nm;线分辨率:0.1nm;STEM分辨率:0.2nm

最小束斑尺寸:TEM模式:2nm以下;EDS模式/纳米束电子衍射(NBD)模式/会聚束电子衍射(CBD)模式:0.5nm以下;

放大倍率:MAG模式: x2,000 - x1,500,000;LOW MAG模式:x50 - x6,000;SA MAG模式:  x8,000 – x800,000;

加速电压: 100,120,200kV

样品移动范围:2mm(X, Y); 0.2mm(Z)

样品倾斜角度:标准样品台  ±25°

空系统:真空度:电子枪室 优于10-7 Pa;样品室  优于2×10-5 Pa;

能谱分析仪(EDS):探测器: Si(Li)半导体探测器;能量分辨率:优于133eV ;有效检测面积:80mm2 ;元素分析范围:B5-U92;探测器制冷方式:电制冷 ;CCD相机技术参数 ;分辨率:4K x 2.7K 像素 ;CCD相机有效面积大于:36mm x 24mm

对外服务时间及收费

对外服务时间为周一至周五9:00—17:30,统一在中科院仪器平台上进行预约。
收费标准: 500元/小时(所外区域中心内) ;600元/小时(区域中心外);

备注

 

 
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